Pg电子游戏：信诺达取得射频芯片老化检测相关专利具有高效和精准检测射频芯片老化的效果
发布时间：2024-07-27 15:04:09点击量：
金融界 2024 年 7 月 23 日消息，天眼查知识产权信息显示，北京信诺达泰思特科技股份有限公司取得一项名为“一种射频芯片的老化检测系统及方法“，授权公告号 CN117368688B，申请日期为 2023 年 9 月 。
专利摘要显示，本发明涉及一种射频芯片的老化检测系统及方法，包括老化工作区模块、电源模块、检测模块、射频芯片和主控模块；射频芯片用于输出射频信号；主控模块根据预设老化检测时间分别自主控制电源模块和老化工作区模块向老化工作区模块输出电源和向射频芯片输出老化环境；检测模块检测射频信号相对应的可测量信号，并发送至主控模块；主控模块根据可测量信号生成检测结果。通过更简便的模拟出射频芯片的实际使用场景，进而对射频芯片进行老化检测并获取检测数据，解决了使用通常芯片的老化检测方式对射频芯片进行检测而导致检测不精准且检测较麻烦的问题，本发明具有高效和精准的检测射频芯片老化的效果。
